Structural and optical properties of sputter deposited FeSi2 thin films

Einordnung

Konferenz:

Internationales Wissenschaftliches Kolloquium. Technische Universität Ilmenau, Faculty of Electrical Engineering and Information Technology ; 54 (Ilmenau) : 2009.09.07-10

Verlag, Verleger(in):

GND

16003365-2

ilmedia

Erschienen in:

Information technology and electrical engineering - devices and systems, materials and technologies for the future
Bd. 54, 2009 (21.12.2009), Session 5.2

Original:

Band:

54, 2009

Datum der Erstellung:

21.12.2009

Datum der Veröffentlichung:

21.12.2009

PPN:

629816611

Sprache:

Englisch

Ressourcentyp:

Text

Umfang:

7 Seiten

Erscheinungsort:

Ilmenau

Klassifikation:

Klasse A

Klassifikation:

für Harvesting bereitgestellt

Klassifikation:

54. IWK (2009)

DDC-Sachgruppe der DNB:

620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

Einrichtung:

Technische Universität Ilmenau, Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik